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- 2023-02-27 发布于北京
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本实用新型涉及一种集成电路的自动测试装置,包括一侧开口设置的壳体和位于所述壳体上半部的检测部,所述壳体内底壁开设有两个第一槽,所述第一槽内过盈配合有第一活塞,所述第一活塞与所述检测部相连接,所述壳体底壁内开设有两个放置腔,所述放置腔内过盈配合有第二活塞,所述放置腔上半部与对应所述第一槽下半部之间连通开设有气道,所述壳体相对两侧均开设有排气孔,所述排气孔与对应所述第一槽下半部相通,所述壳体侧壁对应所述排气孔的位置设置有泄压阀。本实用新型涉及集成电路测试的技术领域。本实用新型在检测部下降对电路板进行
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 218524831 U
(45)授权公告日 2023.02.24
(21)申请号 202222765750.0
(22)申请日 2022.10.20
(73)专利权人 中国软件评测中心(工业和信息
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