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一种用于半导体器件的快速测试系统.pdfVIP

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  • 2023-03-02 发布于北京
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一种用于半导体器件的快速测试系统.pdf

    本实用新型公开了一种用于半导体器件的快速测试系统，包括：放置平台，用于放置待测半导体器件；半导体器件测试仪，用于对待测半导体器件进行测试；控制电路，用于发出开关选通信号；模拟开关电路，与待测半导体器件、控制电路以及半导体器件测试仪连接，用于获取开关选通信号并闭合，以使待测半导体器件与半导体器件测试仪连通。本实用新型将多个待测半导体器件放置在放置平台上，待测的半导体器件与模拟开关电路连接，模拟开关电路与半导体器件测试仪连接，通过开关选通信号使待测半导体器件与半导体器件测试仪连接，选通信号能实现多个

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213122183 U (45)授权公告日 2021.05.04 (21)申请号 201922490459.5 (22)申请日 2019.12.30 (73)专利权人 华南师范大学 地址

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