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- 2023-03-02 发布于四川
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本实用新型提供一种半导体测试支架。所述半导体测试支架包括支架;四个定连块,四个所述定连块分别固定安装在支架的两侧,四个所述定连块呈矩形列阵分布;两个手调转杆,两个所述手调转杆分别转动安装在四个所述定连块之间;四个接应块,四个所述接应块分别固定安装在两个所述手调转杆上;压按块,所述压按块固定安装在接应块上;防护块,所述防护块固定安装在压按块的一侧上,所述防护块的一侧与支架的一侧相接触;两个装接块,两个所述装接块分别固定安装在对应的所述手调转杆上。本实用新型提供的半导体测试支架具有使用方便、便于调节
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 213091803 U
(45)授权公告日 2021.04.30
(21)申请号 202021036170.2
(22)申请日 2020.06.08
(73)专利权人 刘伟阳
地址 11
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