IC试验装置.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约7.78千字
  • 约 8页
  • 2023-03-02 发布于四川
  • 举报
本实用新型涉及集成电子领域技术领域,具体涉及IC试验装置,包括:工作台、定位组件、传动带组件、压紧组件和探针组,其特征在于,所述探针组件固定安装在所述定位组件底部,所述传动带组件固定安装在所述定位组件两端且平铺于所述定位组件表面,所述压紧组件固定安装在所述探针组件底部,且所述压紧组件与所述传动带组件由同一动力驱动,所述定位组件吊设在所述工作台上。本实用新型的有益效果在于:能够批量且自动化试验测试集成电路芯片电气性能,无需人工操作,试验效率高,测试结果稳定可靠,提高质检效率。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213091815 U (45)授权公告日 2021.04.30 (21)申请号 202021891013.X (22)申请日 2020.09.02 (73)专利权人 深圳市羿烽科技有限公司

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档