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- 2023-03-02 发布于四川
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本实用新型公开了一种芯片测试治具导气槽,包括风扇,所述风扇固定在芯片测试治具手测盖的上端,所述芯片测试治具手测盖的中部设有导气口,且芯片测试治具手测盖底部还设有散热块固定座,所述散热块固定座上端中部的散热块插入至导气口内,所述散热块上设有若干组通风道,所述散热块固定座的上端左右两侧设有导气孔,所述芯片测试治具底座上端的凹槽内设有芯片,所述凹槽的左右两侧设有进气槽,所述凹槽的前后两侧设有排气槽。本实用新型可将部分风量引流到芯片测试治具底座,从而达到给芯片及治具降温的作用,避免了在测试过程中再发生芯
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 213068915 U
(45)授权公告日 2021.04.27
(21)申请号 202022005619.5
(22)申请日 2020.09.15
(73)专利权人 苏州韬盛电子科技有限公司
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