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- 2023-03-05 发布于北京
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本实用新型涉及IC测试技术领域，且公开了一种新型IC测试装置，包括箱体，所述箱体的内腔固定安装有底座，所述箱体内腔的左右侧壁转动连接有横向螺杆，所述横向螺杆贯穿底座的本体，所述横向螺杆外壁的左右两侧设置有双向螺纹，所述横向螺杆外壁的左右两侧均螺接有横向夹持块，所述箱体内腔的前后侧壁转动连接有纵向螺杆，所述纵向螺杆贯穿底座的本体，本新型方案能够通过设置有横向螺杆与纵向螺杆可以调节横向夹持块与纵向夹持块的位置，通过横向夹持块与纵向夹持块将IC固定夹紧，适合不同型号的IC，通过设置弹簧可以使本装置适应
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 213210369 U
(45)授权公告日 2021.05.14
(21)申请号 202022114078.X
(22)申请日 2020.09.24
(73)专利权人 无锡世百德微电子有限公司
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