一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备.pdfVIP

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  • 2023-03-05 发布于北京
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一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备.pdf

本实用新型公开了一种具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备,包括操作台和第二通孔,所述操作台的上端固定有第一滑轨,且第一滑轨的上端设置有水平基座,所述水平基座的上端固定有第二滑轨,且第二滑轨的上端设置有推板,所述推板的一侧固定有夹持板,且推板的另一侧设置有限位块,所述水平基座的一侧固定有支架,且支架的一侧设置有刻度尺,所述第一通孔的一侧设置有第二通孔,且第一通孔的内部设置有升降柱,所述第二通孔的一侧设置有第二调节钮。该具有辅助支撑结构的电子组件高度测试设备设置有水平基座和第一滑轨,可以便于进行待

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213208846 U (45)授权公告日 2021.05.14 (21)申请号 202022195993.6 (22)申请日 2020.09.29 (73)专利权人 无锡雷菲电子科技有限公司

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