一种触控芯片电性测试装置.pdfVIP

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  • 2023-03-05 发布于北京
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本实用新型公开了一种触控芯片电性测试装置,包括底座,所述底座的顶部固定连接有工作台,所述工作台的顶部固定连接有滑板,所述滑板的顶部滑动连接有等距排布的多个放置台,多个所述放置台的顶部放置有芯片,所述工作台上设有转动槽,所述转动槽的内壁一侧固定连接有驱动电机,所述驱动电机的输出轴固定连接有第二链轮,所述转动槽的内壁一侧转动连接有相对称的转动轴,两个所述转动轴的一端均固定连接有第一链轮,两个所述第一链轮和第二链轮外侧套设有同一个链条,本实用新型中,通过测试针做上下往复运动,移动板和推动杆自行输送芯片

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213210353 U (45)授权公告日 2021.05.14 (21)申请号 202021162443.8 (22)申请日 2020.06.22 (73)专利权人 上海荣惠笛信息技术有限公司

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