放大器芯片预匹配测试装置及测试系统.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约1.26万字
  • 约 11页
  • 2023-03-08 发布于四川
  • 举报

放大器芯片预匹配测试装置及测试系统.pdf

本实用新型提供了一种放大器芯片预匹配测试装置及测试系统,在测试电路板上设置有测试电路,测试电路包括宽带隔直电容、输入阻抗变换线及输出阻抗变换线,宽带隔直电容与输入阻抗变换线串联,放大器芯片的射频输入端和射频输出端分别搭接在输入阻抗变换线及输出阻抗变换线上,输入阻抗变换线的阻抗沿第一同轴微带转换器至放大器芯片的方向逐渐减小,以将输入阻抗降低并加载至放大器芯片上,输出阻抗变换线的阻抗沿放大器芯片至第二同轴微带转换器的方向逐渐增大,以将输出阻抗提高后输出。本实用新型采用输入阻抗变换线及输出阻抗变换线进

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213337916 U (45)授权公告日 2021.06.01 (21)申请号 202022535196.8 (22)申请日 2020.11.05 (73)专利权人 华美博科技(北京)有限公司

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档