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本实用新型提供了一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其包括操作台和支架，所述操作台上设有进料装置和转盘，所述转盘上设有多个产品位，所述进料装置的物料出口对着转盘，所述转盘的外侧沿圆周方向设有底部外观检测位、薄膜电容外观检测位、良品出料通道和不良品出料通道；所述底部外观检测位在位于转盘产品位的下方设有底部外观检测摄像头，所述支架位于转盘的一侧，所述支架上设有用于检测薄膜电容顶面、正面、背面、左侧面、右侧面、引线正面、引线背面外观的多个不同角度的摄像头；所述良品出料通道、不良品出料通道的上方或一侧分别
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 213516920 U
(45)授权公告日 2021.06.22
(21)申请号 202022435672.9
(22)申请日 2020.10.28
(73)专利权人 深圳宇骏视觉智能科技有限公司
知识产权出版社有限责任公司（原名专利文献出版社）成立于1980年8月，由国家知识产权局主管、主办。长期以来， 知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作， 经过多年来的积累，已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。
版权声明书
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