一种芯片尺寸测量装置.pdfVIP

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  • 2023-03-14 发布于四川
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本实用新型提供一种芯片尺寸测量装置,包括上料机构、下料机构、测量提取机构、第一方向移动机构、第二方向移动机构和芯片载具,测量提取机构逐个对测量tray盘上的芯片进行测量,并将测量不合格的芯片放置在芯片载具上,控制不合格的芯片归口收集,避免其流至下游;由于不合格芯片被提取走,测量tray盘上存在空格,测量提取机构从芯片载具上提取合格的芯片并补偿至测量tray盘上,使得测量tray盘上始终保持整一盘都是合格的芯片,当逐个芯片测量完毕,由第一方向移动机构输送测量tray盘至下料机构,完成合格芯片的收集

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213558508 U (45)授权公告日 2021.06.29 (21)申请号 202022274989.9 (22)申请日 2020.10.13 (73)专利权人 珠海市科迪电子科技有限公司

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