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一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构.pdfVIP

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  • 2023-03-14 发布于四川
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一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构.pdf

    本实用新型提供了一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构，包括晶体定位座、探针对位校准座、测试头和分度盘，所述晶体定位座、探针对位校准座底部均固定连接至分度盘边缘处，分度盘中部转动连接测试组件，测试组件一侧固定连接测试头，测试头位于晶体定位座、探针对位校准座的顶部，分度盘底部设有固定座，固定座一侧固定连接一个外部相机。本实用新型所述的一种用于四头高速的SMD晶体测试对位结构，结构简单，设计合理，其晶体定位座、探针对位校准座、测试头和分度盘可以通过相机拍摄和系统校准精准对位代替肉眼观察定位功能，不

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213579152 U (45)授权公告日 2021.06.29 (21)申请号 202022220890.0 (22)申请日 2020.09.30 (73)专利权人 天津必利优科技发展有限公司

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