一种电子元器件测试设备.pdfVIP

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  • 2023-03-14 发布于四川
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本实用新型公开了一种电子元器件测试设备,包括测试本体,所述测试本体的上表面固定连接有箱体,所述箱体的上表面固定镶嵌有第一轴承,所述测试本体的上表面固定连接有支撑板,所述支撑板的正面固定连接有放置板,所述放置板的上表面开设有等距离排列的通孔,所述箱体的上表面固定连接有第一测试板,所述第一测试板的背面与支撑板的正面固定连接。本实用新型中,通过利用转杆的旋转带动第二齿轮旋转,紧接着使第二齿轮带动第一齿轮转动,并且使螺纹杆利用第一齿轮的转动带动滑板向下移动,同时推动第二测试板与二极管相接触,便于工作人员

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213581233 U (45)授权公告日 2021.06.29 (21)申请号 202022232231.9 (22)申请日 2020.10.09 (73)专利权人 深圳市万泽科技有限公司

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