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一种太赫兹芯片制备用真空测试装置.pdfVIP

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  • 2023-03-18 发布于北京
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一种太赫兹芯片制备用真空测试装置.pdf

    本实用新型公开了一种太赫兹芯片制备用真空测试装置，属于太赫兹芯片测试技术领域，包括底座，所述底座上方放置有外壳，所述底座一侧转动连接L型转动杆，所述L型转动杆一端固定连接压板。对外壳进行固定时，先把外壳放到底座上，接着转动L型转动杆在转动槽内部来调节压板的位置，当L型转动杆带动压板压住外壳时，接着转动螺纹杆带动推板抵住外壳来对外壳进行固定，接着通过转动旋转轴带动L型卡杆卡进卡槽内部来固定好螺纹杆，测试装置在工作时，会产生热量，电机带动转动轴转动，转动轴带动转动杆转动，转动杆带动扇叶转动，扇叶转动

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213689862 U (45)授权公告日 2021.07.13 (21)申请号 202022915681.8 (22)申请日 2020.12.03 (73)专利权人 南京中电芯谷高频器件产业技术

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