一种包含多种校准类型的晶圆标准样板.pdfVIP

一种包含多种校准类型的晶圆标准样板.pdf

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本申请实施例提供一种包含多种校准类型的晶圆标准样板,属于微纳米级精密测量技术领域。包括:基底,所述基底上设置有指引区域与校准区域;所述指引区域包括:指引图案与至少两个凹坑;所述校准区域包括:与每个凹坑配套的标准样板,所述标准样板安装于所述凹坑上;所述指引图案设置于所述凹坑周围,用于在测量仪器对所述标准样板进行定位时,对所述测量仪器的定位起到指示作用。使用本申请提供的包含多种校准类型的晶圆标准样板,可以在保证校准精度的同时,提高校准效率。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213750299 U (45)授权公告日 2021.07.20 (21)申请号 202022169212.6 (22)申请日 2020.09.28 (73)专利权人 西

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