一种载盘内芯片测试装置.pdfVIP

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2023-03-21 发布于北京
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一种载盘内芯片测试装置.pdf

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本实用新型公开了一种载盘内芯片测试装置，包括一个安装支撑底座，所述安装支撑底座的上表面固定安装有一个安装平台机构，本实用新型的有益效果是：通过对测试机构的结构合理布置，能够特定环境下，对载盘和芯片进行精准定位后在测试，实现了一种用载盘将产品输送进特定环境后，在特定环境状态下，首先对装芯片的载盘精准定位，然后对载盘内的芯片定位，最后对芯片进行电性测试，以检测电子元器件性能的装置，同时通过载盘和芯片的高速精准定位方法，以及电性测试机构对芯片触点进行高速精确接触测试，通过实施本发明，能够在特定环境状态

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213780279 U (45)授权公告日 2021.07.23 (21)申请号 202022543703.2 (22)申请日 2020.11.06 (73)专利权人深圳市诺泰芯装备有限公司