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- 2023-03-27 发布于四川
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本实用新型公开了一种大量程非接触式精密测量仪，包括用于放置待测件和量具的测量平台，量具包括置于测量平台上的立柱和在立柱上串接的粗测量具和精测量具，待测件尺寸为粗测量具和精测量具读数之差；粗测量具包括一升降块和置于升降块上部的千分表，升降块的底面置于测量平台上时，千分表顶针与升降块的顶面接触并显示读数为零；所述精测量具包括与升降块固定的光学传感器，所述光学传感器的测量零点位置与所述升降块的底面位置相适应；本实用新型的大量程非接触式精密测量仪，操作简单，能够实现大量程、高精度、非接触式测量，在确保测
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 213956182 U
(45)授权公告日 2021.08.13
(21)申请号 202022934974.0
(22)申请日 2020.12.09
(73)专利权人 合肥埃科光电科技有限公司
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