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本实用新型公开了一种多通道芯片性能测试设备，包括操作板，操作板表面一侧开设有槽孔，槽孔正上方设置有芯片座，芯片座呈槽型结构，芯片座正上方设置有芯片，操作板靠近槽孔一侧设置有固定杆，固定杆竖向开设有限位块滑槽，固定杆靠近芯片一侧开设有滑块槽，通过设置的活动杆与电机，在主动板与传动杆的配合下，当主动板转动一百八十度后，主动板与传动杆收尾相连，活动杆将芯片全部按压至芯片座内部，从而对其快速的检测，与此同时，电机继续转动，此时在主动板的作用下，使得传动杆向上运动，并通过连杆在槽孔内部向上推动，从而将芯片
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 213933955 U
(45)授权公告日 2021.08.10
(21)申请号 202023035518.9
(22)申请日 2020.12.16
(73)专利权人 深圳市鑫洲芯微电子有限公司
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