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基于同颗芯片的ADC测试电路.pdfVIP

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  • 2023-04-04 发布于四川
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基于同颗芯片的ADC测试电路.pdf

    本实用新型揭示了一种基于同颗芯片的ADC测试电路，其特征在于：基于芯片内ADC模块、DAC模块及模块间的逻辑操控回路相接构成，其中逻辑操控回路为包含电阻R1~电阻Rn的串联电路，其中n的取值对应大于ADC模块的通道数量，DAC模块的两条通道接入逻辑操控回路，任意两相邻电阻间的节点分路接入ADC模块的全部通道引脚。该DAC模块根据ADC模块采样频率周期性切换对应逻辑操控回路的电压输入。应用实用新型该测试电路，通过使用较少的DAC通道来给ADC模块所有通道提供不断变化的电压输入，易于跟随ADC模块的

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214097709 U (45)授权公告日 2021.08.31 (21)申请号 202023305325.0 (22)申请日 2020.12.31 (73)专利权人 宜宾芯汇信息科技有限公司

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