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一种IC芯片测试分选装置.pdfVIP

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  • 2023-04-04 发布于四川
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一种IC芯片测试分选装置.pdf

    本实用新型公开了一种IC芯片测试分选装置，包括基座、支撑杆、支架和夹持块，所述基座的顶端固定有支架，且支架内部的顶端固定有壳体，所述壳体的一侧安装有伺服电机，所述壳体的内部活动有螺纹杆，所述螺纹杆的外部贯穿有移动块，且移动块底端延伸至壳体的底部，所述移动块的底端安装有气缸，且气缸的底端设置有电动推杆，所述传输带一端基座的上方设置有导流板，所述支撑杆的一侧安装有驱动电机，所述卡槽嵌设在支撑杆的顶部，所述卡槽的内部设置有卡块，且卡块顶端与横板的底端相连接，所述基座一端的顶部设置有收纳结构。本实用新型

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214077941 U (45)授权公告日 2021.08.31 (21)申请号 202023009955.3 (22)申请日 2020.12.14 (73)专利权人 深圳市芯探科技有限公司

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