一种基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统.pdfVIP

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  • 2023-04-06 发布于四川
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一种基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统.pdf

本实用新型公开一种基于高纯锗探测器的辐射剂量率测量系统,包括:测量单元、模拟单元、对比分析单元、数据处理单元;测量单元用于对辐射源的能谱进行能谱测量实验,获得辐射源的真实能谱;模拟单元用于对能谱测量实验进行蒙特卡洛模拟,获得辐射源的模拟能谱,模拟单元还基于参数优化后的蒙特卡洛模拟实验在不同能量下对辐射源进行模拟,获得辐射源的连续能谱;对比分析单元用于对比并分析真实能谱和模拟能谱,并对蒙特卡洛模拟实验进行参数优化;数据处理单元用于根据连续能谱进行能谱剂量转换,基于能谱剂量转换获得辐射剂量率。本实用

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215415904 U (45)授权公告日 2022.01.04 (21)申请号 202121933952.0 (22)申请日 2021.08.18 (73)专利权人 内蒙古民族大学 地

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