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- 2023-04-06 发布于四川
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本实用新型公开了一种薄膜电容性能测试装置,包括:电源单元,用于产生主电路电压和控制电压;储能单元,与所述电源单元电性连接,用于对所述主电路电压进行储能;充电单元,与所述储能单元电性连接,用于对被测电容进行充电;放电单元,与所述充电单元电性连接,用于对所述被测电容进行放电;信息采集单元,用于采集所述被测电容的充电信息;控制单元,与所述电源单元、信息采集单元、充电单元和放电单元电性连接,用于获取所述被测电容的充电信息,并生成充电控制信号和放电控制信号。本实用新型的测试装置的测试功能齐全,可进行老化测
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 215415698 U
(45)授权公告日 2022.01.04
(21)申请号 202122109424.X
(22)申请日 2021.09.02
(73)专利权人 成都通用整流电器研究所
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