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谷物粒检查器.pdfVIP

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  • 2023-04-07 发布于北京
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谷物粒检查器.pdf

    本实用新型的课题在于提供一种能够利用简单的构造来进行传感器的校正的谷物粒检查器，谷物粒检查器(1)具备：对配置于检查位置的试样盘(7)上的谷物粒进行检测的传感器(31)；以及用于传感器(31)的校正且在进行传感器(31)的校正的校正位置与从校正位置退避的退避位置之间运动的基准部件(9)，在试样盘(7)配置于检查位置时，基准部件(9)从试样盘(7)受到按压力而从校正位置向退避位置运动。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215448886 U (45)授权公告日 2022.01.07 (21)申请号 202121666608.X (22)申请日 2021.07.21 (30)优先权数据 2020-1247

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