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- 2023-04-07 发布于北京
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本实用新型涉及光纤传感器阵列测量领域,具体涉及一种用于快速测量光纤传感器阵列的测量装置,其特征在于:包括可谐调波长光源(1),所述可谐调波长光源(1)与1*M路光开关连接,待测光纤传感器(3)接入所述1*M路光开关的另一端,所述待测光纤传感器(3)同时接入若干1*N路光开关,所述若干1*N路光开关分接接入若干PD光电转换,若干PD光电转换同时接入示波器与显控端电脑(12),其中M大于等于N。本实用新型不用每次使用插拔的方法用标准衰减器代替待测光纤传感器在光路中的位置,再测试经过标准衰减器后的光强
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 215448411 U
(45)授权公告日 2022.01.07
(21)申请号 202121355441.5
(22)申请日 2021.06.18
(73)专利权人 上
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