一种新型半导体单晶片应力检测仪.pdfVIP

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  • 2023-04-17 发布于四川
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本实用新型涉及应力检测仪技术领域,具体为一种新型半导体单晶片应力检测仪,包括机体和夹持装置,机体的表面设有圆片,机体的表面固装有检测器,机体的表面设有两个夹持装置,且两个夹持装置相对于机体的中心点对称分布,夹持装置包括支撑块,支撑块的侧壁和机体侧壁固装,支撑块的侧壁设有转杆,转杆远离支撑块的一端固装有主夹块,主夹块的表面设有副夹块,机体的表面设有清理装置,清理装置包括两个移动块,两个移动块分别位于机体的两侧,移动块的内壁滑动连接有滑动块。本实用新型,解决了传统的单晶片在进行检测时,需要人手持转动

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215767473 U (45)授权公告日 2022.02.08 (21)申请号 202122421977.9 (22)申请日 2021.09.30 (73)专利权人 无

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