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本实用新型属于芯片加工技术领域,更具体地,涉及一种半导体芯片抓取装置。该抓取装置包括抓取部和顶起部,顶起部包括顶针本体,用于将待抓取芯片连同该芯片底部的弹性薄膜向上顶起,抓取部包括抓取部腔体,抓取部腔体包括中心腔体和围绕所述中心腔体布置的侧腔体,中心腔体顶部设置有若干个氮气吹扫口,氮气吹扫口用于向所述待抓取芯片正面吹扫氮气;侧腔体内设置有活塞、摘取刀片和复位弹性部件。该半导体芯片抓取装置工作时,抓取部在上,顶起部在下,薄膜上芯片由顶针本体顶起后,抓取部腔体通过调控侧腔体压力使得摘取刀片从侧腔体底
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 215815834 U
(45)授权公告日 2022.02.11
(21)申请号 202123258597.4
(22)申请日 2021.12.23
(73)专利权人 湖北三维半导体集成创新中心有
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