一种芯片检测的上下料装置.pdfVIP

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2023-04-20 发布于四川
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一种芯片检测的上下料装置.pdf

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本实用新型涉及一种芯片检测的上下料装置，其包括基座、料仓机构、横梁、运送机构以及夹持机械手。横梁通过两根立柱安装在基座上，料仓机构用于存放芯片。运送机构安装在横梁上，运送机构能够实现x轴和z轴运动。夹持机械手安装在运送机构上，夹持机械手从料仓机构中夹取带有料盒的芯片，并将芯片放置在检测工位上。检测完成后的下料过程为上料过程的逆向操作，已经检测完成的芯片被重新放回料盒内。芯片检测的上下料装置能够配合芯片检测设备使用，有效地加快了检测设备的节拍，提高芯片检测的工作效率。整个上下料过程均无需人工参与，

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215885467 U (45)授权公告日 2022.02.22 (21)申请号 202121417317.7 (22)申请日 2021.06.24 (73)专利权人湖南奥创普科技有限公司