一种测试片及测试结构.pdfVIP

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2023-04-20 发布于四川
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一种测试片及测试结构.pdf

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本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试片，包括：测试部，所述测试部一端的端面上设置有第一抵接部，所述第一抵接部用于抵接电子芯片的引脚；弹性部，与所述测试部的另一端连接，用于缓冲电子芯片的引脚与所述测试片的硬性接触；以及连接件，包括固定部和第二抵接部，所述固定部的一端与所述弹性部连接，所述固定部的另一端与所述第二抵接部连接，所述第二抵接部用于与PCB板电性抵接，所述测试片通过所述固定部固定在测试结构上接。上述测试片能够实现对电子芯片的测试且测试的稳定性高。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215894847 U (45)授权公告日 2022.02.22 (21)申请号 202122081973.0 (22)申请日 2021.08.31 (73)专利权人深圳市福瑞达电子有限公司