存储介质异常掉电测试装置及方法.pdfVIP

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2023-04-23 发布于北京
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存储介质异常掉电测试装置及方法.pdf

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本发明涉及一种存储介质异常掉电测试装置及方法的技术方案，包括：初始化测试系统，对测试电脑的测试程序执行初始化，对测试电脑与测试板连接、上电及掉电状态进行检测；获取测试板的上的存储介质历史掉电信息，根据历史掉电信息将对应的掉电次数录入测试电脑；向测试板发送用于读取的校验命令，读取历史掉电信息执行校验，将校验结果录入测试电脑；根据校验结果确定存储介质的异常掉电情况，根据异常掉电情况，执行掉电次数的记录或数据校验。本发明的有益效果为：解决传统的异常测试方法带来的效率低和准确性低的问题。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113960391 A (43)申请公布日 2022.01.21 (21)申请号 202111069637.2 (22)申请日 2021.09.13 (71)申请人珠海亿智电子科技有限公司