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本发明公开了一种应用于STT‑MRAM的写验证电路,属于计算机存储技术领域。所述电路包括:写操作完成检测电路和写自终止电路;所述写操作完成检测电路用于判断写操作是否完成,并产生检测反馈信号COP;所述写自终止电路根据所述检测反馈信号COP产生写操作信号和终止写操作信号。本发明的写操作完成检测电路,根据写操作过程中STT‑MRAM状态的变化,实时监控写操作的状态,并产生检测反馈信号作用于写自终止电路,一旦检测到写操作完成,写自终止电路及时产生写驱动电路终止信号,关闭写驱动,结束写操作;本发明的写验
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113990366 A
(43)申请公布日 2022.01.28
(21)申请号 202111264111.X
(22)申请日 2021.10.27
(71)申请人 江南大学
地址 21
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