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一种验证NAND数据通路正确性的测试方法.pdfVIP

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  • 2023-04-24 发布于北京
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一种验证NAND数据通路正确性的测试方法.pdf

    本发明涉及数据传输检测领域，针对NANDflash数据传输中会产生错误的问题，提出了一种可以排除NANDflash自身存储产生错误的测试方法，即首先遍历设定范围内的DQSdelay值，并利用NANDflash的寄存器读写操作比较写入与读出的数据，将差异值进行记录，最后通过对差异值的检查结果判定，实现验证NANDflash数据通路是否会产生错误的测试方法。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114023373 A (43)申请公布日 2022.02.08 (21)申请号 202111317696.7 (22)申请日 2021.11.09 (71)申请人 山东华芯半导体有限公司

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