一种二维半导体材料载流子寿命的测量装置和测量方法.pdfVIP

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2023-04-24 发布于四川
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一种二维半导体材料载流子寿命的测量装置和测量方法.pdf

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本发明提供了一种二维半导体材料载流子寿命的测量装置和测量方法，装置包括：激光器用于产生激光；分束镜设置在激光器后端，激光器产生的激光经由分束镜后得到第一激光和第二激光；泵浦光调节部接收第一激光并将第一激光调制为测量所需的泵浦光，并将调制后的泵浦光输出到样品上；探测光调节部接收第二激光并将第二激光调制为测量所需的探测光，并将调制后的探测光输出到样品上；光电探测器，光电探测器设置在样品反射光的路径上以探测经过样品反射后光的强弱变化，光探测器配置为将探测到的光信号的强弱变化转换成电信号的强弱变化并记录

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114002157 A (43)申请公布日 2022.02.01 (21)申请号 202111149331.8 (22)申请日 2021.09.29 (71)申请人山东云海国创云计算装备产业创新