一种光学元件表面疵病二维自动检测方法.pdfVIP

下载本文档

1
0
约1.2万字
约 16页
2023-04-25 发布于四川
举报
版权申诉

一种光学元件表面疵病二维自动检测方法.pdf

1、本文档共16页，其中可免费阅读15页，需付费10金币后方可阅读剩余内容。
2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本发明公开了一种光学元件表面疵病二维自动检测方法，该方法包括以下步骤：1)使用显微成像头对光学元件表面缺陷进行扫描，完成高速图像采集和拼接处理；2)使用表面缺陷智能识别分析法和数据处理系统进行缺陷智能识别和量化分析，得到缺陷二维尺寸数据、位置信息；3)并结合缺陷检测国际ISO标准和国家GB标准对光学元件缺陷等级进行评定。本发明采用了显微成像原理、表面疵病智能识别和量化分析技术，实现了光学元件表面疵病数字化、自动化和标准化检测。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114037682 A (43)申请公布日 2022.02.11 (21)申请号 202111316062.X G06T 3/40 (2006.01)