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本发明涉及一种基于微芯片测量数据定位井下漏失点的方法，基于微芯片测量数据定位井下漏失点的方法，包括步骤：通过微芯片现场测试，获取全井筒温度原始测量数据；将原始测量数据转换为温度对应井深的数据；对所述温度对应井深的数据进行降噪处理得到温度梯度对应井深数据；对所述降噪处理温度梯度对应井深数据再次求导得到温度梯度变化对应井深数据并形成温度梯度变化曲线；根据所述温度梯度变化曲线判断漏点。该方法使用小尺寸的微芯片，可在不影响钻井流程的情况下，进行全井筒温度场测量，而后期通过将测量的数据回收处理得到全井筒温
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115992698 A
(43)申请公布日 2023.04.21
(21)申请号 202310125007.5 E21B 47/07 (2012.01)
(22)申请日 2023.02.
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