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- 2023-04-25 发布于四川
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本发明涉及一种用于对密封膜(2)的密封性进行测试的方法，该密封膜被附接到搁置在密封支撑表面(13)上的热绝缘屏障(1)，该方法包括：‑将第一密封剂条(17)施加至密封膜(2)；‑将第二密封剂条(18)绕密封膜(2)施加至支撑表面(13)，‑通过第一和第二密封剂条，将密封盖(12)密封地布置在密封膜(2)和支撑表面(13)之间，密封盖(12)、支撑表面(13)、第一密封剂条(17)、第二密封剂条(18)和密封膜(2)一起限定封围空间(19)，‑相对于封围空间(19)外部的环境，对该封围空间(19)
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114072652 A
(43)申请公布日 2022.02.18
(21)申请号 202080047373.8 让 ·扎赫拉
(22)申请日 2020.06.
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