雷击地电位抬升测试方法.pdfVIP

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  • 2023-04-26 发布于四川
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本发明属于地电位抬升测试领域,尤其是一种雷击地电位抬升测试方法,针对现有的不能够对电子器件的地电位抬升能力进行预估,不便于对地电位抬升能力进行检测的问题,现提出如下方案,其包括以下步骤:S1、检测器件性能,根据性能预估抬升能力,并建立曲线变化图;S2、多次考核地电位抬升能力,并与预估的数据进行对比,计算差异度;S3、如差异在设定范围内,则预估数据准确;S4、如某次考核数据超出设定范围,则首先判断考核是否准确,如考核准确,则预估数据有误,需对预估进行调整,S5、再次考核,本发明可以对电子器件的地电

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114089075 A (43)申请公布日 2022.02.25 (21)申请号 202111431529.5 (22)申请日 2021.11.29 (71)申请人 丁旻 地址 5500

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