芯片引脚测量方法和装置.pdfVIP

下载本文档

4
0
约2.12万字
约 20页
2023-04-27 发布于北京
举报
版权申诉

芯片引脚测量方法和装置.pdf

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

本申请提供一种芯片引脚测量方法和装置，在获取包含芯片主体和连接在芯片主体周侧的引脚的图像后，对图像进行旋转处理，以调整待测量芯片的方位，并划定芯片主体的任一周侧的引脚所在区域为检测区域，将检测区域内的各个像素点向预设方向进行投影，得到投影图像，最后基于投影图像中包含的像素值分布信息，确定检测区域内的引脚的引脚信息。本方案中，采用像素点的像素值投影的方式，可以直接基于像素值分布来确定引脚信息，在简化处理方式的同时，可以广泛适用于基于图像的芯片引脚测量应用中。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114152200 A (43)申请公布日 2022.03.08 (21)申请号 202210115398.8 (22)申请日 2022.02.07 (71)申请人北京航空航天大学杭州创新研究院