一种减少单晶叶片平台处杂晶缺陷的装置及其方法.pdfVIP

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2023-04-27 发布于北京
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一种减少单晶叶片平台处杂晶缺陷的装置及其方法.pdf

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本发明提供了一种减少单晶叶片平台处杂晶缺陷的装置，包括水冷盘和设置于水冷盘上方的叶片模壳以及模壳中柱；所述叶片模壳上设置有叶片平台，所述叶片平台沿远离模壳中柱的一侧向靠近模壳中柱的一侧方向由高到低倾斜设置，且所述叶片平台的低处一侧与模壳中柱之间设置有反射层挡板，所述反射层挡板与所述叶片平台之间留有间隙；其可减少叶片平台尖端处的杂晶及疏松等缺陷，且不增加工艺操作难度，不改变原有模壳结构，也不增加额外热源或引晶条，结构简单，操作简便，大大降低制造成本。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114130994 A (43)申请公布日 2022.03.04 (21)申请号 202111561922.6 (22)申请日 2021.12.20 (71)申请人成都