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基于知识图谱的代码克隆检测优化方法、装置和电子设备.pdfVIP

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  • 2023-04-27 发布于北京
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基于知识图谱的代码克隆检测优化方法、装置和电子设备.pdf

    本申请涉及一种基于知识图谱的代码克隆检测优化方法、装置和电子设备。该方法通过获取多个待检测代码片段，并采用预定筛选策略对其对应的候选代码片段集合进行筛选得到对应初始候选代码片段集合；利用知识图谱的知识对初始获选代码片段进行筛选，得到优化后的候选代码片段集合；采用预设克隆检测方法检测每个待检测代码片段与对应的优化后的候选代码片段集合中的每个候选代码片段之间的克隆关系，并根据得到的克隆检测结果构建优化后的克隆知识图谱；根据克隆知识图谱，得到优化后的所有克隆对集合。本方法未对现有克隆检测方法进行修改，

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114138330 A (43)申请公布日 2022.03.04 (21)申请号 202111516149.1 (22)申请日 2021.12.07 (71)申请人 中国人民解放军国防科技大学

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