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可测性设计技术 【摘要】随着微电子技术的迅速发展、芯片集成度的不断提高以及电路板复杂性 的不断增加，传统的测试模型和测试方法已经不能满足当前的测试要求,测试费 用急剧增加。本文介绍了可测试性设计的内涵、意义和分类，可测试性设计有两 种方法：专项可测试性设计和结构化可测试性设计（边界扫描和内建自测试）， 并讲述了这些方法的基本原理。 【关键词】可测试性设计；边界扫描；内建自测试 随着数字电路集成度不断提高，系统日趋复杂，对其测试也变得越来越困难。 当大规模集成电路LSI和超大规模集成电路VLSI 问世之后，甚至