一种表面污染测量探头装置、系统及方法.pdfVIP

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2023-05-04 发布于北京
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一种表面污染测量探头装置、系统及方法.pdf

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本发明涉及一种表面污染测量探头装置、系统及方法，属于核辐射测量技术领域；包括双晶体探头、数据处理装置、数据存储装置、探头工作电压控制装置、探头工作温度控制装置、探头窗光照控制装置；所述数据处理装置、探头工作电压控制装置、双晶体探头依次连接，用于实时控制双晶体探头的工作电压；所述数据处理装置、探头工作温度控制装置、双晶体探头依次连接，用于实时控制双晶体探头的工作温度等。本方案当出现双晶体探头的表面污染测量异常时；对探测器工作电压的控制、工作温度的控制、探测窗光照强度的控制进行针对性异常故障检测，从

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114216861 A (43)申请公布日 2022.03.22 (21)申请号 202111480996.7 (22)申请日 2021.12.06 (71)申请人中国工程物理研究院核物理与化学