芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质.pdfVIP

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2023-05-05 发布于四川
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芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质.pdf

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本公开提出一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法包括：确定芯片中的待验证模块，以及待验证模块的验证相关数据，其中，验证相关数据包括：模块配置数据、参考输入数据以及对应的参考输出数据；根据模块配置数据对待验证模块进行配置处理；将参考输入数据输入待验证模块，以获取待验证模块的实际输出数据；根据参考输出数据以及实际输出数据，确定待验证模块的验证结果，从而能够采用同一个验证环境，对芯片中的不同待验证模块进行验证，不需要多个验证环境的部署，减少验证成本，节省验证时间，且提高验证效率。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114330176 A (43)申请公布日 2022.04.12 (21)申请号 202111415825.6 (22)申请日 2021.11.25 (71)申请人北京爱芯科技有限公司