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本发明实施例公开一种芯片验证方法及装置、电子设备、存储介质，涉及电子设计自动化领域，能够有效提高芯片验证效率并减少硬盘资源占用。所述方法包括：获取已运行结束的测试用例对应的仿真日志；从所述仿真日志中获取验证未通过的测试用例的错误信息，并根据所述错误信息对验证未通过的所述测试用例进行分类，得到对应的错误类型和每种错误类型下的测试用例，以从每种错误类型下的测试用例中选择一部分，生成仿真波形。本发明适用于芯片验证中。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114357918 A
(43)申请公布日 2022.04.15
(21)申请号 202111528657.1
(22)申请日 2021.12.14
(71)申请人 海光信息技术股份有限公司
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