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2023-05-08 发布于四川
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芯片测试系统.pdf

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本发明公开一种芯片测试系统。其包含芯片托盘套件、插入件安装设备、测试设备、插入件拆卸设备及输送设备。芯片托盘套件包含托盘、芯片固定件及辅助插入件。芯片固定件固定于托盘，其用以承载多个芯片。插入件安装设备用以将辅助插入件固定设置于芯片固定件的一侧，辅助插入件用以限制芯片固定件中的芯片的活动范围。插入件拆卸设备用以拆卸辅助插入件。测试设备包含盖体、抵压组件、温度调节装置及测试机台。芯片托盘套件与测试机台相连接，而芯片被测试的过程中，与温度调节装置连接而到达预定温度的抵压组件是对应抵压于各个芯片的表面

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114446808 A (43)申请公布日 2022.05.06 (21)申请号 202011203917.3 (22)申请日 2020.11.02 (71)申请人第一检测有限公司地址美国加利福