基于β射线分析技术的颗粒物检测方法.pdfVIP

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2023-05-09 发布于北京
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基于β射线分析技术的颗粒物检测方法.pdf

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本发明提供了基于β射线分析技术的颗粒物检测方法，具体为：不含颗粒物的零气进入采样管并穿过滤膜；同时，β射线穿过滤膜，获得计数的平均值I0；进入采样管的待测气体中颗粒物被滤膜截留；同时，获得多个时间段内计数的平均值Ii，i＝1,2···N；根据时间段内计数的平均值、平均值I0以及该时间段内的待测气体体积得到该时间段内的颗粒物含量；在滤膜富集颗粒物的同时，获得时间段[T1，T2]内与多个时间点ti分别对应的计数值Ai，i＝1,2···M，获得计数值Ai与时间点ti的映射关系A＝f(t)；根据所述映射

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114486655 A (43)申请公布日 2022.05.13 (21)申请号 202111635423.7 (22)申请日 2021.12.29 (71)申请人聚光科技（杭州）股份