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本发明涉及X射线荧光仪(XRF)元素定量分析领域，特别涉及一种支持向量机回归结合灵敏度分析的元素含量定量分析方法。是基于在XRF光谱的元素定量分析中，特征和元素具有明确的对应关系这一特点，通过训练样本集构建SVR模型，再通过SVR模型和灵敏度分析方法获得高灵敏度元素，基于高灵敏度元素和训练样本集构建经过特征降维后的SVR*模型，来实现元素的定量分析。与现有技术相比，本发明通过改变现有模型的特征输入，观察改变前后输出的变化即可得到特征的灵敏度系数，分析过程计算简单，复杂度小，有利于工程实现。分析过
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114460116 A
(43)申请公布日 2022.05.10
(21)申请号 202111648616.6
(22)申请日 2021.12.30
(71)申请人 电子科技大学
地址 611731
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