一种集成电路安全检测系统.pdfVIP

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  • 2023-05-10 发布于北京
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本申请提供一种集成电路安全检测系统,包括:高精密电阻模块、信号放大模块和处理器,高精密电阻模块包括高精密电阻,处理器与待测集成电路连接,用于运行集成电路安全检测策略,高精密电阻模块连接待测集成电路,高精密电阻模块还连接信号放大模块,信号放大模块,用于放大高精密电阻的电压,信号放大模块连接示波器。即提供专门针对集成电路安全检测的硬件平台,能更好适应目前集成电路安全检测的需要,减少不需要的模块,通过增加了高精密电阻模块和信号放大模块,精确测量和放大高精密电阻的电压值,从而可以根据高精密电阻的微小的电

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114509979 A (43)申请公布日 2022.05.17 (21)申请号 202210163824.5 (22)申请日 2022.02.22 (71)申请人 中国科学院微电子研究所 地址 10

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