- 1
- 0
- 约3.09万字
- 约 26页
- 2023-05-10 发布于四川
- 举报
本申请公开了一种集成电路参数化方法、装置、存储介质及终端设备,所述方法包括获取集成电路对应的电路版图;识别所述电路版图中的元器件的区域信息;基于获取到的区域信息确定所述电路版图的位置参量。本申请在获取到集成电路的电路版图后,识别电路版图中的元器件的区域信息,并基于区域信息将电路版图转换为位置参量,通过位置参量来表示电路版图中各部件的位置信息以及位置关系,这样需要对电路版图进行调整后,可以通过对位置参量进行调整来实现,从而可以提高电路版图的调整效率,进而提高集成电路的生产效率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114519328 A
(43)申请公布日 2022.05.20
(21)申请号 202011309075.X
(22)申请日 2020.11.19
(71)申请人 TCL科技集团股份有限公司
地址
原创力文档

文档评论(0)