一种时隙交换电路测试装置及方法.pdfVIP

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2023-05-10 发布于四川
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一种时隙交换电路测试装置及方法.pdf

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本发明提供一种时隙交换电路测试装置及方法，第一交换电路配置为消息模式进行传递数据并且进行效验。把第二交换电路配置为交换模式，将第一交换电路产生的时隙数据交换到指定的输出时隙上并且进行效验。MCU主控模块以第三交换电路的时隙存储器作为读取交换消息数据的对象，读取交换消息数据后与预设交换消息数据进行对比效验得出测试结果。本发明可灵活编写各种测试算法，实现对目标交换电路更全面、更深入的测试，更能发现目标电路存在的临界问题和偶发问题，极大提高目标电路功能的正确性以及性能的稳定性、抗干扰性和健壮性；测试全

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116074226 A (43)申请公布日 2023.05.05 (21)申请号 202111302417.X (22)申请日 2021.11.04 (71)申请人上海新殿光电子科技有限公司地址