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一种芯片的测试电路、方法以及测试系统.pdfVIP

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  • 2023-05-10 发布于四川
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一种芯片的测试电路、方法以及测试系统.pdf

    本申请公开了一种芯片的测试电路、方法以及测试系统，芯片的测试电路基于测试机发送的测试信号对芯片进行测试；该测试电路包括：开关、电感以及负载电容；开关的第一端连接测试机的第一电源或第二电源，开关的第二端连接芯片的电压输入端；电感的第一端连接测试机的第一电源，电感的第二端连接芯片的开关管；负载电容的第一端连接测试机的电压输出端以及芯片的电压输出端，第二端接地，并且测试机的电压输出端与芯片的电压输出端相连。通过测试电路连接芯片与测试机的不同电源，实现对芯片中多个功能模块的测试。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114518527 A (43)申请公布日 2022.05.20 (21)申请号 202210148001.5 (22)申请日 2022.02.17 (71)申请人 上海艾为电子技术股份有限公司 地址

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